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簡要描述： 小麦玉米不完(wan)善(shan)粒測定儀是以小麦/高(gao)粱/大米(mi)等作物不完善粒作(zuo)為測定對象,在自動获(huo)取糧食(shi)圖像后，通過模式识別或深度學習等技術構建(jian)神經網絡模型，實時分(fen)析糧食特征並計算出不完善(shan)粒百分比的專用儀器；振動送料，高清圖像采集,保留樣品的原(yuan)始(shi)状態，對樣品(pin)无破坏；檢測(ce)結果：以質量百分比(bi)為(wei)結果輸出方式，檢測結果包含不完善粒(li)总量及其分(fen)項含量。
產品型號：
IN-WS10
访問量：
350
| 一、儀器簡介 |
不完善粒測定(ding)儀是(shi)以小麦/高(gao)粱/大米(mi)等作物不完善粒作(zuo)為測定對象,在自動获(huo)取糧食(shi)圖像后，通過模式识別或深度學習等技術構建(jian)神經網絡模型，實時分(fen)析糧食特征並計算出不完善(shan)粒百分比的專用儀器。
| 二、產品參数 |
1、儀器(qi)能够按照(zhao) GB1351、GB1353、 GB/T 5494、對(dui)小麦/高(gao)粱/大米(mi)/玉米等作(zuo)物不完善(shan)粒及病斑粒、虫蚀粒、破损粒、 生芽粒、生霉粒(li)等分類的定義快速檢測不完善粒(li)总量及其分類各項含量。后(hou)續通過自主學習可以(yi)擴展到多品種作物。
2、檢測重量：一次檢測量：≥50g。
3、檢測速度：每 50g 樣品檢測時間≤3min。
4、檢測精度：雙實驗允差： ≤0.5%。
5、檢(jian)測方(fang)法：振動送料，高清圖像采集,保留樣品的原(yuan)始(shi)状態，對樣品(pin)无破坏。
6、檢測(ce)結果：以質量百分比(bi)為(wei)結果輸出方式，檢測結果包含不完善粒(li)总量及其分(fen)項含量。
7、数據處理與(yu)存储：自動完(wan)成檢測数(shu)據處理；存(cun)储≥二十萬张視頻圖像照片，存储空(kong)間不低於 500GB。
8、顯示：7寸或10寸屏幕選(xuan)擇，可視化顯示界面，触屏功能，直觀的菜單导航，整合帮助功能。
9、輸出：USB2.0 輸出接口和網(wang)線接口(kou)。数據自動保存，提供历史檢(jian)測記錄(lu)的快捷导出功能。
10、系統启(qi)動時間：≤1min。菜單语言：中文等。
11、環境適應性：温度：0℃-50℃；湿度：≤85%。
12、環境適應性 温度：0℃-40℃；湿度：≤ 85%。
13、供電 AC220V±20V,50Hz/60Hz
14、功耗：功率不高於 800W。
| 三、配置要求 |
1、不完善粒檢測主機 1 臺。
2、内置(zhi)電脑1 臺及相應 的操作软件(jian) 1 套。
3、使用說明书。
4、出廠合格證。
